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　　12月18日，由北京理化分析测试技术学会电子显微学专业✅委员会主办的2024年度北京市电子显微学年会在中复大厦成功召开。吸引了来自学术界、电镜制造业、仪器应用领域及相关检测领域的近400名专家学者、厂商㊣代表及用户积极参与，会场座无虚席，洋溢着浓厚的学㊣术探讨与交流氛围。

　　北京理化分析测试技术学会电子显微学专业委员会理事长何其华进行开幕致辞。何理事长首先对各位老师的无私奉献、会务团队的辛勤筹备表示了感谢，正是他们的不㊣懈努力，确保了本次年会的如期举行与顺利进行。同时，她也感谢了参与学术报告的专家们，他们的精彩分享为会议增添了宝贵的学术价值，展现了电子显微学领域的最新进展。此外，她还特别㊣感谢了长期以来给予电镜协会支持的厂商伙伴们，以及所有莅临会议的师生们。她希望今天的学术交流能够激发更多灵感，让每位参与者都能满载而归。最后，她预祝本次年会取得圆满成功，为电子显微学的发展贡献新的力量。

　　清华大学谷林教授作题为“还原论下的电化学储能材料”的报告。谷教授从还原论的角度下，以储能材料、锂电池等为例为参会者介绍了如何将材料来定量化。基于还原论的思想，将材料科学的研究视角从基本单元深入到原子能级，视原子为材料科学的核心抓手，然后通过对称性对原子能级的进行修饰来描述整个材料科学。在这一思路中，还原论的思想与分子轨道理论有着异曲同工之妙，都体现了“破”的智慧——将复杂材料拆解为基本单㊣元进行研究。然而，在材料㊣✅科学中，还存在着准㊣离子等复杂问题，这些问题超出了还原论的解决范围。为了应对这些挑战，需要借助衍生论的思㊣想，材料㊣科学将✅在这“破”与“立”的过程中不✅断前行，逐步走向定量化研究的新阶段。

　　中国科学院物理研究所张忠山副主任工程师作题为“聚焦离子束在微纳加工中的应用”的报告。报告全面介绍了聚焦离子束在微纳加工领域的多重应用。首先，探讨了聚焦离子束的典型应用，如材料加工与结构表征。其次，展示了聚㊣焦离子㊣束的“剪纸”应用，利用离子束扫㊣描与沉积技术，实现了薄膜结构的复杂变形与图案化多道分析器作用，为光学器件✅等领域提供了新的✅设计思路。接着，介绍了“BO㊣㊣SC✅H”工艺——一种通过结合不同气体实现边沉㊣积边刻蚀的先进工艺，显著提升了加工结构的深宽比，为特殊材料的微纳加工提供了可能医用冷藏冷冻箱国标。最后，还介绍了聚焦离子束在三维沉积方面的特殊㊣应用，如制备弹簧形状的微纳结构，展示了离子束在诱导碳沉积方面的能力。

　　北京大学生命科学学院公共仪器中心胡迎春高进工程师作题为“免疫电镜与生命科学研究”的报告。胡老师首先为与会者介绍了北京大学生命科学学院的公共仪器中心，该中心自2009年成立以来，已发展成为集电镜平台、光学成像平台等在内的七大高端测试平台于一体的综合性科研支撑体系。接着，胡老师又㊣介绍了免✅疫电镜技术，这项技术通过运用特定抗体，能够在细胞原位及超微结构层面精准定位特定抗原，为科学研究提供了强有力的视觉工具。并进一步阐述了免疫电镜技术在免疫生物学、发育生物学、神经生物学㊣等多个前✅沿领域的广泛应用案例。展望未来，胡老师指出，免疫电镜技术与CD-SEM技术的融合将成为一个新的发展方向，使研究者能够更加真实地洞察细胞内部的微观世界，为生㊣命科学领域的研究开辟新的道路。

　　北京低碳清洁能源研究院蒋复国高级工程师作题为“原位电镜在工业用费托催化剂的活性相研究”的报告。费托（FT）㊣合成，作为一种煤间接制油的技术，其机理依据碳化物原理，可以细分为㊣四个关键步骤：CO解离、C原子加氢、C链增长以及C链加氢终止。通过这一系列反应，能够合成出长链碳氢化合物，这一化合物具有高经㊣济✅价值。为了更深入地研究费托合成过程，该研究利用Protochips Atmosphere210+AXON进行了原位表征。发现，较低温度下，纯相ε-Fe2C为在还原Fe纳米颗粒表面外延生长，因而加大比表面积，并阻断O与CO结合机会，从而降低CO2选择率。还观察到，在一㊣定的条件下，可从氧化铁内部直接碳化得到纯相的χ-Fe5C2。

　　中国科学院植物研究所徐秀苹正高级工程师作题为“冷冻扫描电镜和 MicroCT 在植物学研✅究中的应用”的报告。低温扫描电镜，作为一种集成了冷冻样品制备技术与扫描电镜功能的新型设备，其独特之处在于能够在高㊣真空环境中直接观察含水样品，该技术不仅制样过程迅速，而且通过断裂蚀刻等手段，能在最大程度上保留样品的原㊣貌与原位信息。然而，低温扫描电镜亦有其局限性，如观察后的样品无法保存以供后续研究，且难以有效去除样品表面的杂质，这在一定程度上限制了其应用范围。MicroCT（显微计算机断层扫描技术）作为一种非破坏性的3D成像技术，以其高分㊣辨率（高于临床CT）著称，能够在不破坏样本的前提下，揭示样本内部的显微结构。在植物学研究✅中，低温扫描电镜与MicroCT均展现出了广泛的应用潜力。

　　国家纳米中心郑强研究员作题为“功能晶体材料局域结构波动的表征与设计”的报告。报告中，郑强研究员详㊣✅细㊣介绍了在层㊣状半导体Inse局域晶格应变(自发极化)、层状半导体Inse外场下的晶格应变操控(极化操控)及层状半导体Inse的应变机理等方面的研究进展，研究发现层状半导体InSe中存在Se皮米级位移，导致两类自发极化畴；外电场可诱导层状半导体InSe发生层内滑移，这种层内滑移是其铁电性的重要起源；InSe层内滑移方向随电场方向变化发生反转，电致应变量随电场强度增强而增加；外应力可导致Inse层内滑移，后续可定量研㊣究外应力-层㊣内滑移及相关应变机理。

　　北京师范大学李永良副研究员作题为“场发射扫描电镜的理论与实践”的报告。报告主要介绍了加速电压对电镜图像的影响以及低电压模式的应用。首先，加速电压对图像的影响极大，它决定了电子束的能量，进而影响电子束与样品的相互作用、信号的产生以及图像的分辨率。随着加速电㊣压的增加，电子㊣束能量提高，但图像的相似中区范围也会扩大，导致细节丢失。其次，加速电压与分辨率有直接关系。通常，电压越高，电子枪亮度越✅大，分辨率也越㊣高。但低电压下的分辨率会明显低于高电压。此外，加速电压还与电子束损伤有关。高电压下，电子束✅能量高，可能导致样品受热损伤或积碳现象。而低电压下，单位体✅积的沉积电子束能量反而更高，更易引起积碳。最后，介绍了低电压模式在材料研究中的应用，特别是在锂电池✅研究中的应用。

　　上海微纳国际贸易有限公司产品经理 赵昕作题为“Dectris 4D-STEM 混合像素直接电子探✅测器在材料及生命科学中的应用”的报告。Dectris公司于2006年成立，总公司位于瑞士，在美国和日本有分公司(销售和支持)，拥有18年的探测器研发和商业化经验。随后，她介绍了混合像素探测技术，其区别于直接电子探测器，由上下两个芯片组成，上为纯硅基探测芯片，下为读出芯片，中间以微球连接，旨在提升数据读出速度。其特点为㊣0噪音，技术准确。长时㊣间曝光下，可见宇宙射线等杂散信号。最后，又为参会者详细介绍了4D-STEM的基本原理及其在材料科学中的应用。

　　牛津仪器科技(上海)有限公司 高级应用科学家 杨小鹏作题为“牛津仪器显微分析技术最㊣新进展”的报告。杨小鹏详尽阐述了牛津仪㊣器材料分析部（MA）的业务范畴，该部门涵盖了光学、电子光学及㊣力学等多个领域的解决方案。随后，他着重介绍了牛津仪器的几款高端仪器设备，包括高通量且高分辨率的㊣原子力显微镜、RISE关联显微镜系统、Nano Indenter纳米压痕仪，以及先进的Ultim Extreme ∞㊣设备，并深入探讨了这些仪器在锂电池检测等领域的实际应用与优势。

　　日立科学仪器 电镜销售支援部 经理张希文作题为“日立原㊣位球差与聚焦离子束技术介绍”的报告。报告㊣介绍了日立公司的两款高端科研设备：HF5000透射电镜和聚焦离子束(FIB㊣)设备。HF5000具备高分辨率、原位功能及独特的二次电子像，可在㊣通气状态下保持高分辨率，适用于各种样品杆，为研究者提供新视野。FIB设备则擅长透射样品制备，具有低损伤加工和真空转移技术，可与其他设备互联，满足多样化科研需求。

　　国仪量子技术（合肥）股份有限公司 电镜解决方案部负责人✅ 高原作题为“国仪量子电镜最新技术及应用进展”的报告。自2016年创立以来，国仪量子通过持续研发新产品与创新技术，实现了企业的蓬勃发展，目前全球范围内累计装机量已超过450台。本次报告聚焦于国仪量子的最新技术突破，详尽介绍了包括FIB-DB550、HEM6000、原位工程技术以及新型同轴分流式信号探测系统在内的多项前沿成果。报告介绍了这些技术的技术原理、创新亮点以及它们在多个应用领域中的广阔前景。

　　捷欧路(北京)科贸有限公司 应用工程师 成华秋作题为“日本电子 FE-SEM 的技术革新和无窗型能谱的介绍”的报告。报告中详细阐述了JSM-IT810扫描电镜的技术革新：其一体化与自动化的操作流程标志着扫描✅电镜技术迈入了一个全新的自动化纪元。通过SBED（超快速背散射电子衍射）和VBED（虚拟背散射电子衍射）技术，JSM-IT810实现了高像素的快速扫描，并引入了Live-3D实时三维成像功能，加之梯形校正等功能的加入，进一步提升了其性能与实用㊣性。此外，还着重介绍了无窗型能谱仪Gather-X的显著特点：该设备能在整个能量范围内提供高灵敏度的元素分析，同时确保了高度的操作便捷性与用户安全保障。其MAP（多道分析器）技术更是赋予了Gather-X卓越的高空间分辨率能力，使得分析结果更为精确与细致。

　　卡尔蔡司(上海)管理有限㊣公司 应用经理 秦艳作题为“SEM中块体样品位错的定量定性表征与分析”的报告。报告核心内容聚焦于蔡司SEM中一项创新的块体样㊣品位错分析技术——cECCI。该技术巧妙融合了电子背散射衍㊣射（EBSD）与透射电子显微✅镜（TEM）的优势，展现出了几大特点：一是分析面积广泛，能够覆盖更大的样品区域；二是分辨率极高，能够精确捕捉微观结构细节；三是统计性强，能够提供丰富的位错分布与性质数据；四是操作流程简便，降低了技术门槛，等等。此外，cECCI技㊣术具有广泛㊣的材料适用性，能够支持多种类型材料的位错定量与定性表征与分析。

　　北京中科汇束科技有限公司/隆斯克普 总经理 刘晓斌作题为“国产真空冷冻传输系统和氩离子束仪器的开发和应用”的报告。报告详细✅✅介绍了隆斯克普的技术、仪器、实验流㊣程及应用结果。从技术组成，涵盖真空、冷冻、传输及离㊣子束技术，这些技术组合形成了完整㊣的产品线，如真空冷冻样品转移仓、液氮操作台、多功能冷冻㊣实验舱等，这些产品可相互连接，支持从制样到观测的完整工作流程，并展示了实验流程和具体案例，如酵母菌、苹果组织及树叶㊣的冷冻传输图像。此外，还介绍了离子束相关✅的产㊣品，如离子减薄抛光仪和离子束刻蚀镀膜仪，满足用户的不同需求。

　　赛默飞世尔科技 业务拓展部经理 杨光作题为“赛默飞最新一代球差校正电镜-I㊣liad介绍”的报告。Iliad是一款全集成的分析型（扫描）透射电镜，其集成了全新的Iliad 电子能量损失谱仪(EELS)和能量过滤器、专用的Zebra EELS探测器，以及全新的NanoPulser超快静电束闸，并通过多项创新，确保与电镜光学系统的深度集成。此外Iliad EELS可以在采集数据时始终保持聚焦，可以实现✅最多5个能量范围的数据收集，也可以实现极高能量电子损失谱数据的收集。这款电镜以前所未有的硬件和软件集成，以及对仪器设计的前瞻性方法，开启了球差校正电镜新篇章，也标志着赛默飞科技在推动科学发现和技术创新方面迈出了重要一步。

　　北京理化分析测试技术学会电镜专业委员会荣誉理事长张德添老师发表了总结发言。他指出，各位专家的报告充分展现了㊣电子显微学领域的蓬勃发展态势，并强调本次会议旨在搭建一个交流与合作的平台。张理事长对参会的每位老师、专家及厂商代表表达了诚挚的谢意，并表示希望明年再次相聚。